오용호 박사의 논문이 IEEE T-MTT 5월호에 게재 되었습니다. 다시 한번 축하합니다. 서지 정보는 다음과 같습니다.
Yongho Oh and Jae-Sung Rieh, “Effect of Device Layout on the Stability of RF MOSFETs,” IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, vol. 61, no. 5, pp. 1861-1869, May, 2013.
